SE-PCT02 工业级高精度CT断层检测系统

SE-PCT02 工业级高精度CT断层检测系统是一款先进的三维X光检测解决方案，专为PCBA与IGBT领域设计。系统采用先进的计算机断层扫描（CT）模式和重建算法，可实现电子器件的全面离线与在线检测。

该系统专门用于检测BGA/LGA、压接连接器、翻转芯片（Flip-Chip）、PoP、QFN、PTH以及IGBT等组件，可发现气孔、断路、桥连、气泡、润湿不良、缺件及元件错误等缺陷。

该系统适用于多种应用场景，包括中小型金属零件、复合材料、电力半导体、生物样品及陶瓷器件。凭借其高精度和可靠性，SE-PCT02 能为各行业提供全面的检测和质量保障。

X光源

• 工作电压：225 kV

• 焦点尺寸：＜3 μm

• 光管类型：开管式

产品参数

• 像素尺寸：139 μm

• 像素数量：3072 × 3072

• 图像区域：427 × 427 mm

• 灰度：14/16位

• 系统分辨率：＜3 μm

• 标准尺寸：2500 × 1500 × 1800 mm

• 整机重量：5000 kg